Počet záznamů: 1  

In situ XPS characterization of diamond films after AR.sup.+./sup. cluster ion beam sputtering

  1. 1.
    ARTEMENKO, A., BABCHENKO, O., KOZAK, H., UKRAINTSEV, E., IŽÁK, T., ROMANYUK, O., POTOCKÝ, Š., KROMKA, A. In situ XPS characterization of diamond films after AR+ cluster ion beam sputtering. In: NANOCON 2015: 7th International Conference on Nanomaterials - Research and Application, Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, spol. s r.o., 2015, s. 605-610. ISBN 978-80-87294-63-5.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.