Počet záznamů: 1
Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM
- 1.
SYSNO ASEP 0452286 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Název Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM Tvůrce(i) Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Skoupý, Radim (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrubanová, Kamila (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Kočová, L. (CZ)
Nebesářová, Jana (BC-A) RID, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. - Göttingen : DGE, 2015 Rozsah stran s. 817-818 Poč.str. 2 s. Forma vydání Online - E Akce Microscopy Conference 2015 Datum konání 06.09.2015-11.09.2015 Místo konání Göttingen Země DE - Německo Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova STEM ; ultrathin resin Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA14-20012S GA ČR - Grantová agentura ČR TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 ; BC-A - RVO:60077344 Anotace A scanning transmission electron microscope (STEM) is a useful device combining features of scanning and transmission electron microscopes. Nowadays, low voltage STEM - here we mean a transmission mode in a SEM that uses, in respect to a commercial STEM, much lower voltages - is increasingly used also for imaging of ultrathin sections. However, many TEM operators consider STEM as a significant source of radiation damage for observation of ultrathin sections; two main features caused by beam damages are the mass loss and the contamination. Both types of damages depend on the used electron energy and the electron dose applied to the sample. In general, the mass loss depends on the sample composition and the contamination results mainly from the poor vacuum in the specimen chamber of the SEM and cleanness of the sample surface. Here, we focus on quantitative investigations of the mass loss of embedding media ultrathin sections in specific aging conditions. Moreover, we discuss our results and propose reduction of the damage for imaging in the low voltage STEM. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1