Počet záznamů: 1
Scanning transmission low energy electron microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0352939 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Scanning transmission low energy electron microscopy Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 3 Zdroj.dok. The 7th International Workshop on LEEM/PEEM. - New York : IBM T.J. Watson Research Center, 2010
S. 25Poč.str. 1 s. Akce LEEM/PEEM /7./ Datum konání 08.08.2010-13.08.2010 Místo konání New York Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova scanning electron microscope ; he low energy electron microscope ; graphene Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace The standard scanning electron microscope (SEM) and the low energy electron microscope (LEEM) examine surface structures using reflected electrons. The cathode lens (CL) principle with negatively biased sample, used in emission microscopes, was introduced in the SEM in order to work at arbitrarily low energy. Anode of the CL, inserted to above the sample, consists of a one channel scintillation detector with a small central bore (0.3mm) and collects reflected electrons accelerated in the CL field. Another detector, based on the PIN structure, is positioned below the sample and acquires signal transmitted through thin foils and similarly accelerated. In the very low energy range we rely on the inelastic mean free path of electrons steeply extending below about 50 eV, and hence on increased penetrability of electrons, at last through crystallinic layers. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1