Počet záznamů: 1
Komora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM
- 1.
SYSNO ASEP 0322619 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název Komora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM Překlad názvu Chamber for a study of highly-aggressive samples in VP-SEM Tvůrce(i) Runštuk, Jiří (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAIRok vydání 2008 Int.kód HS-1 Lokalizace výsledku Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Technické parametry Nově navržená a zkonstruovaná komora umožňuje studium agresivních vzorků při velmi vysokém tlaku plynů v komoře vzorku EREM tak, aby nedocházelo k poškození mikroskopu. Ekonomické parametry Zařízení lze použít v elektronových mikroskopech všech světových výrobců. Významně prodlužuje životnost a zlepšuje parametry mikroskopů v případě, že jsou dlouhodobě používány pro studium agresivních vzorků, jako jsou např. kyseliny. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. IČ vlastníka 68081731 Kat.výsl.dle nákl. A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč Využ. jiným subjektem A - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence Požad. na licenč. popl. A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova VP-SEM ; aggressive samples ; chamber Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Přítomnost vysokého tlaku plynů a aerosolů, jenž jsou uvolňovány v důsledku interakce primárního elektronového svazku s agresivními vzorky, může docházet k poškozování zařízení v komoře vzorku mikroskoou Tyto chemikálie mohou také zapříčinit vznik nečistot v tubusu mikroskopu a výrazně tak snížit jeho rozlišení. Výše zmíněné problémy mohou být řešeny použitím nově zkonstruovaného zařízení (komory), jenž umožňuje studium agresivních vzorků v elektronových mikroskopech typu EREM. Překlad anotace Unfortunately, the presence of high pressure environment together with vapours or aerosois released by beam bombardment from aggressive samples (battery materiál, hydrocarbon containing samples, etc.), can damage specimen chamber equipment of VP-SEM. These chemicals make problems and create impurities inside the column (along the way of the pumped gas) and cause significant decrease of resolution. Above mentioned problems may be overcome by the use of a newly designed apparatus for the study of aggressive samples in VP-SEM. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1