Počet záznamů: 1  

Komora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM

  1. 1.
    SYSNO ASEP0322619
    Druh ASEPL - Prototyp, funkční vzorek
    Zařazení RIVG - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
    Poddruh RIVFunkční vzorek
    NázevKomora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM
    Překlad názvuChamber for a study of highly-aggressive samples in VP-SEM
    Tvůrce(i) Runštuk, Jiří (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Rok vydání2008
    Int.kódHS-1
    Lokalizace výsledkuÚstav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    Technické parametryNově navržená a zkonstruovaná komora umožňuje studium agresivních vzorků při velmi vysokém tlaku plynů v komoře vzorku EREM tak, aby nedocházelo k poškození mikroskopu.
    Ekonomické parametryZařízení lze použít v elektronových mikroskopech všech světových výrobců. Významně prodlužuje životnost a zlepšuje parametry mikroskopů v případě, že jsou dlouhodobě používány pro studium agresivních vzorků, jako jsou např. kyseliny.
    Název vlastníkaÚstav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    IČ vlastníka68081731
    Kat.výsl.dle nákl.A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč
    Využ. jiným subjektemA - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
    Požad. na licenč. popl.A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek
    Jazyk dok.cze - čeština
    Země vlastníkaCZ - Česká republika
    Klíč. slovaVP-SEM ; aggressive samples ; chamber
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    AnotacePřítomnost vysokého tlaku plynů a aerosolů, jenž jsou uvolňovány v důsledku interakce primárního elektronového svazku s agresivními vzorky, může docházet k poškozování zařízení v komoře vzorku mikroskoou Tyto chemikálie mohou také zapříčinit vznik nečistot v tubusu mikroskopu a výrazně tak snížit jeho rozlišení. Výše zmíněné problémy mohou být řešeny použitím nově zkonstruovaného zařízení (komory), jenž umožňuje studium agresivních vzorků v elektronových mikroskopech typu EREM.
    Překlad anotaceUnfortunately, the presence of high pressure environment together with vapours or aerosois released by beam bombardment from aggressive samples (battery materiál, hydrocarbon containing samples, etc.), can damage specimen chamber equipment of VP-SEM. These chemicals make problems and create impurities inside the column (along the way of the pumped gas) and cause significant decrease of resolution. Above mentioned problems may be overcome by the use of a newly designed apparatus for the study of aggressive samples in VP-SEM.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2009
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.