Počet záznamů: 1
Low Energy Electron Microscopy in Materials Science
- 1.
SYSNO ASEP 0315458 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Low Energy Electron Microscopy in Materials Science Překlad názvu Nízko energiová elektronová mikroskopie v materiálových vědách Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matsuda, K. (JP)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. - Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 / Mika Filip - ISBN 978-80-254-0905-3 Rozsah stran s. 85-86 Poč.str. 2 s. Akce International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./ Datum konání 14.07.2008-18.07.2008 Místo konání Skalský dvůr Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova collection efficiency ; cathode lens mode ; material contrast Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) UT WOS 000278630900028 Anotace The collection efficiency and the amplification of the detector of reflected electrons in the scanning electron microscope were remarkably improved by the use of the cathode lens in the specimen region. Strong contrast appears e.g. in the superconductive composite material or precipitates. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1