Počet záznamů: 1
Enhancement of SEM to scanning LEEM
- 1.0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
Enhancement of SEM to scanning LEEM.
[Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * LEEM * scanning LEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
Paper summarizes ways to incorporating the scanning LEEM method into a conventional SEM via introduction of the cathode lens to below the objective lens. Basic properties of the scanning LEEM are provided.
Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150316
Počet záznamů: 1