Počet záznamů: 1  

Image analysis algorithm for the verification of hexagonal symmetry in spherical nanostructures

  1. 1.
    SYSNO ASEP0556001
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevImage analysis algorithm for the verification of hexagonal symmetry in spherical nanostructures
    Tvůrce(i) Domonkos, M. (CZ)
    Jackivová, Rajisa (FZU-D)
    Pathó, A. (CZ)
    Celkový počet autorů3
    Číslo článku111635
    Zdroj.dok.Microelectronic Engineering. - : Elsevier - ISSN 0167-9317
    Roč. 251, Jan (2022)
    Poč.str.10 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaimage analysis ; nanosphere lithography ; defect detection ; hexagonal ordering ; scanning electron microscopy ; Python
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDElectrical and electronic engineering
    Výzkumná infrastrukturaCzechNanoLab - 90110 - Vysoké učení technické v Brně
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000710177300002
    EID SCOPUS85118727388
    DOI10.1016/j.mee.2021.111635
    AnotaceVerification of ordering and symmetry is essential to enhance the nanofabrication process of periodic nano-structures. In this paper, we present the open-source software HEXI, which can detect circles and distinguish between perfect hexagonal ordering and defect configurations. The proposed user-friendly image analysis soft-ware (implemented in Python) consists of several stages. First, the algorithm identifies circular structures in microscopy (e.g., scanning electron microscopy, atomic force microscopy) images using the Canny edge detector and the Hough circle transform. Then, the detected circles are categorized as hexagonally ordered or non- hexagonally ordered (defects). This classification can be achieved using three different methods: variance in brightness (global or adaptive) and distance.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1016/j.mee.2021.111635
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.