Počet záznamů: 1  

Anisotropy of 3D Columnar Coatings in Mid-Infrared Spectral Range

  1. 1.
    SYSNO ASEP0554109
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevAnisotropy of 3D Columnar Coatings in Mid-Infrared Spectral Range
    Tvůrce(i) Grineviciute, L. (LT)
    Ng, S. (AU)
    Han, M. (AU)
    Moein, T. (AU)
    Anand, V. (AU)
    Katkus, T. (AU)
    Ryu, M. (JP)
    Morikawa, J. (JP)
    Tobin, M. (AU)
    Vongsvivut, J. (AU)
    Tolenis, Tomas (FZU-D) ORCID
    Juodkazis, S. (AU)
    Celkový počet autorů12
    Číslo článku3247
    Zdroj.dok.Nanomaterials. - : MDPI
    Roč. 11, č. 12 (2021)
    Poč.str.14 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovapolarisation ; IR ; fingerprint region ; birefringence ; dichroism ; sculptured thin films ; anisotropy
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    Výzkumná infrastrukturaELI Beamlines III - 90141 - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    Způsob publikováníOpen access
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000737052800001
    EID SCOPUS85120086858
    DOI10.3390/nano11123247
    AnotacePolarisation analysis in the mid-infrared fingerprint region was carried out on thin (∼1 μm) Si and SiO2 films evaporated via glancing angle deposition (GLAD) method at 70∘ to the normal. Synchrotron-based infrared microspectroscopic measurements were carried out on the Infrared Microspectroscopy (IRM) beamline at Australian Synchrotron. Specific absorption bands, particularly Si-O-Si stretching vibration, was found to follow the angular dependence of ∼cos2θ, consistent with the absorption anisotropy. This unexpected anisotropy stems from the enhanced absorption in nano-crevices, which have orientation following the cos2θ angular dependence as revealed by Fourier transforming the image of the surface of 3D columnar films and numerical modeling of light field enhancement by sub-wavelength nano-crevices.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2022
    Elektronická adresahttp://hdl.handle.net/11104/0328748
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.