Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna Mikmeková, Eliška
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. ISSN 2079-4991. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
Program: StrategieAV
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 5.3, rok: 2022 ; AIS: 0.712, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
Web výsledku:
https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71DOI: https://doi.org/10.3390/nano12010071
http://hdl.handle.net/11104/0326569