Počet záznamů: 1
Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride
- 1.
SYSNO 0545328 Název Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride Tvůrce(i) Tkachenko, V. (DE)
Lipp, V. (DE)
Buescher, M. (DE)
Capotondi, F. (IT)
Hoeppner, H. (DE)
Medvedev, Nikita (FZU-D) ORCID, RID
Pedersoli, E. (IT)
Prandolini, M.J. (DE)
Rossi, G.M. (DE)
Tavella, F. (US)
Toleikis, S. (DE)
Windeler, M. (US)
Ziaja, B. (PL)
Teubner, U. (DE)Zdroj.dok. Scientific Reports. Roč. 11, č. 1 (2021). - : Nature Publishing Group Číslo článku 5203 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant 654148, XE - země EU LTT17015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. DE Klíč.slova temporal diagnostics of FEL pulses * optical properties of silicon nitride irradiated by XUV and soft X-ray URL http://hdl.handle.net/11104/0322052 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0322052 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0545328.pdf 2 2.4 MB CC Licence Vydavatelský postprint povolen
Počet záznamů: 1