Počet záznamů: 1

Zařízení pro měření drsnosti optických povrchů

SYSNO ASEP	0537041
Druh ASEP	L - Prototyp, funkční vzorek
Zařazení RIV	G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
Poddruh RIV	Funkční vzorek
Název	Zařízení pro měření drsnosti optických povrchů
Překlad názvu	Roughness measurement device for optical surfaces
Tvůrce(i)	Šarbort, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Holá, Miroslava (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Schovánek, P. (CZ) Řeřucha, Šimon (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Oulehla, Jindřich (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	7
Rok vydání	2020
Int.kód	APL-2020-14
Technické parametry	Rozsah X-Z skenování dx=200 mikronů s krokem 10 nm, dz=-+10mikronů s krokem 1nm, statické konfigurace senzoru pro měření drsnosti (axicon, wedge, 4-point) a dynamická konfigurace (prostorový modulátor světla). Nejistota měření < 1 mikrometr.
Ekonomické parametry	Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: prof. Ing. Josef Lazar, Dr., joe@isibrno.cz
Název vlastníka	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
IČ vlastníka	68081731
Kat.výsl.dle nákl.	B - Vyčerpaná část nákladů > 5 mil. Kč a <= 10 mil. Kč
Požad. na licenč. popl.	Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Číselná identifikace	APL-2020-14
Jazyk dok.	cze - čeština
Země vlastníka	CZ - Česká republika
Klíč. slova	rughness measurement ; optical metrology ; optical surfaces ; cross-section scanning
Vědní obor RIV	BH - Optika, masery a lasery
Obor OECD	Optics (including laser optics and quantum optics)
CEP	TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Experimentální sestava pro pilotní ověření parametrů nové metody pro měření drsnosti povrchů metodou detekce zaostření svazku. Aparát zahrnuje zobrazovací jednotku těsně provázanou s technikami digitálního zpracování signálů a velmi přesným mechanismem pro dvouosé X-Z polohování. Modulární architektura umožňuje využít statické varianty inspekce povrchu nebo dynamickou variantu měření. Systém posuvu sensoru drsnosti umožňuje rozsah skenování 200 mikrometrů a hloubku skenu +- 10 mikrometrů.
Překlad anotace	Experimental assembly for the pilot characterization of the novel surface topography technique, based on different configuration of the imaging arrangement. The apparatus integrates the optical imaging unit performance in conjunction with the digital processing techniques and precise X-Z translation mechanism. The modular architecture allows for several variants of the surface topography measurement configuration with interchangeable static arrangements or a dynamic arrangement of the measurement. The positioning system of the roughnes measuring sensor enables the X-Z cross-section scanning in 200 micrometer range with +- 10 micrometer range depth.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2021

Počet záznamů: 1