Počet záznamů: 1
Effect of FIB milling on NiTi films and NiTi/Si micro-bridge sensor
- 1.
SYSNO 0533159 Název Effect of FIB milling on NiTi films and NiTi/Si micro-bridge sensor Tvůrce(i) Vokoun, David (FZU-D) RID, ORCID
Kadeřávek, Lukáš (FZU-D) ORCID
Balogová, Jarmila (FZU-D) ORCID
Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
Landa, Michal (UT-L) RID
Drahokoupil, Jan (FZU-D) RID, ORCID
Němeček, J. (CZ)
Heller, Luděk (FZU-D) RID, ORCIDKorespondující/senior Vokoun, David - Korespondující autor Zdroj.dok. Smart Materials and Structures. Roč. 29, č. 1 (2020), s. 1-10. - : Institute of Physics Publishing Číslo článku 015001 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA17-05360S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika GA18-03834S GA ČR - Grantová agentura ČR GA17-05360S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika CZ.2.16/3.1.00/21568, XE - země EU LO1409 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika LM2015088 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 ; UT-L - RVO:61388998 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova NiTi film * Xe FIB * MEMS * AFM * resonant ultrasound spectroscopy * sensor fabrication URL https://doi.org/10.1088/1361-665X/ab4e0c Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0311637
Počet záznamů: 1