Počet záznamů: 1  

Classifying multi-model wheat yield impact response surfaces showing sensitivity to temperature and precipitation change

  1. 1.
    SYSNO0488997
    NázevClassifying multi-model wheat yield impact response surfaces showing sensitivity to temperature and precipitation change
    Tvůrce(i) Fronzek, S. (FI)
    Pirttioja, N. K. (FI)
    Carter, T. R. (FI)
    Bindi, M. (IT)
    Hoffmann, H. (DE)
    Palosuo, T. (FI)
    Ruiz-Ramos, M. (ES)
    Tao, F. (FI)
    Trnka, Miroslav (UEK-B) [VS1] RID, ORCID, SAI
    Acutis, M. (IT)
    Asseng, S. (US)
    Baranowski, P. (PL)
    Basso, B. (US)
    Bodin, P. (SE)
    Buis, S. (FR)
    Cammarano, D. (GB)
    Deligios, P. (IT)
    Destain, M. F. (BE)
    Dumont, B. (BE)
    Ewert, F. (DE)
    Ferrise, R. (IT)
    Francois, L. (BE)
    Gaiser, T. (DE)
    Hlavinka, Petr (UEK-B) [VS1] RID, ORCID, SAI
    Jacquemin, I. (BE)
    Kersebaum, K. C. (DE)
    Kollas, C. (DE)
    Krzyszczak, J. (PL)
    Lorite, I. J. (ES)
    Minet, J. (BE)
    Ines Minguez, M. (ES)
    Montesino, M. (DK)
    Moriondo, M. (IT)
    Mueller, C. (CH)
    Nendel, C. (DE)
    Öztürk, I. (DK)
    Perego, A. (IT)
    Rodriguez, A. (ES)
    Ruane, A. C. (US)
    Ruget, F. (FR)
    Sanna, M. (IT)
    Semenov, M. A. (GB)
    Slawinski, C. (PL)
    Stratonovitch, P. (GB)
    Supit, I. (NL)
    Waha, K. (AU)
    Wang, E. (US)
    Wu, L. (GB)
    Zhao, Z. (AU)
    Rötter, R. (FI)
    Zdroj.dok. Agricultural Systems. Roč. 159, jan (2018), s. 209-224. - : Elsevier
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Institucionální podporaUEK-B - RVO:86652079
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.GB
    Klíč.slova climate-change * crop models * probabilistic assessment * simulating impacts * british catchments * uncertainty * europe * productivity * calibration * adaptation * Classification * Climate change * Crop model * Ensemble * Sensitivity analysis * Wheat
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0283491
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.