Počet záznamů: 1
Very low energy STEM / TOF system
- 1.
SYSNO ASEP 0481149 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Very low energy STEM / TOF system Tvůrce(i) Daniel, Benjamin (UPT-D) RID
Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Piňos, Jakub (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. - Wien : Technische Universitaet Wien, 2017
S. 70Poč.str. 1 s. Forma vydání Tištěná - P Akce SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons Datum konání 18.09.2017 - 22.09.2017 Místo konání Pula Země IT - Itálie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. AT - Rakousko Klíč. slova STEM/TOF system ; ultrathin films ; UHV SLEEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Scanning low energy electron microscopes (SLEEMs) have been built at ISI for more than 25 years, either by modification of available SEMs, or completely self-built.
High resolution imaging is possible even below 100 eV electron landing energy, and in principle the energy can be decreased down to 0 eV. A more recent development is the use of a detector for transmitted electrons
(TE) for samples below 10 nm thickness, i.e. ultrathin films and 2D materials like graphene or MoS2. These TE detection capabilities will be enhanced even further with the completion of a new UHV SLEEM with a time-offlight (TOF) energy analyzer optimized for electron energies below 100 eV.Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1