Počet záznamů: 1
Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity
- 1.
SYSNO ASEP 0399920 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity Tvůrce(i) Yurtsever, A. (JP)
Sugimoto, Y. (JP)
Tanaka, H. (JP)
Abe, M. (JP)
Morita, S. (JP)
Ondráček, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Pou, P. (ES)
Pérez, R. (ES)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Physical Review. B - ISSN 1098-0121
Roč. 87, č. 15 (2013), "155403-1"-"155403-10"Poč.str. 10 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova atomic force microscopy ; DFT simulations ; silicon surface ; surface passivation ; electrostatic interaction Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GPP204/11/P578 GA ČR - Grantová agentura ČR GAP204/10/0952 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000317194800006 DOI 10.1103/PhysRevB.87.155403 Anotace On the basis of noncontact atomic force microscopy (NC-AFM) on the Si(111)-7x7 surface, supported by density functional theory (DFT) simulations, we identify two types of NC-AFM tip termination, resulting in two characteristic modes of interaction (weaker or stronger) between the tip and the surface. We explain the existence of these two interaction modes in terms of the tip structure and interaction mechanism. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1