Počet záznamů: 1  

Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity

  1. SYS0399920
    LBL
      
    02234^^^^^2200457^^^450
    005
      
    20240103203404.3
    014
      
    $a 000317194800006 $2 WOS
    017
    70
    $a 10.1103/PhysRevB.87.155403 $2 DOI
    100
      
    $a 20131204d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng
    102
      
    $a US
    200
    1-
    $a Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity
    215
      
    $a 10 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0257971 $1 011 $a 1098-0121 $1 200 1 $a Physical Review. B $v Roč. 87, č. 15 (2013), "155403-1"-"155403-10"
    610
    0-
    $a atomic force microscopy
    610
    0-
    $a DFT simulations
    610
    0-
    $a silicon surface
    610
    0-
    $a surface passivation
    610
    0-
    $a electrostatic interaction
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0287443 $a Yurtsever $b A. $y JP $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0215881 $a Sugimoto $b Y. $y JP $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0041435 $a Tanaka $b H. $y JP $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0215882 $a Abe $b M. $y JP $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0215883 $a Morita $b S. $y JP $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0215648 $a Ondráček $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Low-Dimensional Atomic and Molecular Structures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0215880 $a Pou $b P. $y ES $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0016793 $a Pérez $b R. $y ES $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0100261 $a Jelínek $b Pavel $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Low-Dimensional Atomic and Molecular Structures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    856
      
    $u http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.87.155403
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.