Počet záznamů: 1
Defect studies of ZnO films prepared by pulsed laser deposition on various substrates
- 1.
SYSNO ASEP 0398548 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Defect studies of ZnO films prepared by pulsed laser deposition on various substrates Tvůrce(i) Melikhova, O. (CZ)
Čížek, J. (CZ)
Procházka, I. (CZ)
Kužel, R. (CZ)
Novotný, Michal (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Bulíř, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Lančok, Ján (FZU-D) RID, ORCID
Anwand, W. (DE)
Brauer, G. (DE)
Connolly, J. (IE)
McCarthy, E. (IE)
Krishnamurthy, S. (IE)
Mosnier, J.-P. (IE)Zdroj.dok. ICPA 2012 - 16th International Conference on Positron Annihilation. - Bristol : IOP Publishing Ltd, 2013 - ISSN 1742-6588 Rozsah stran 012018 Poč.str. 4 s. Forma vydání Tištěná - P Akce International Conference on Positron Annihilation /16./, ICPA 2012 Datum konání 19.08.2012-24.12.2012 Místo konání Bristol Země GB - Velká Británie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova ZnO thin film ; pulsed laser deposition ; point defects ; slow positron implantation spectroscopy ; x-ray diffraction Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GAP108/11/0958 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000321739400018 EID SCOPUS 8488104929 DOI 10.1088/1742-6596/443/1/012018 Anotace ZnO thin films deposited on various substrates were characterized by slow positron implantation spectroscopy (SPIS) combined with X-ray diffraction (XRD). All films studied exhibit wurtzite structure and crystallite size 20-100 nm. The mosaic spread of crystallites is relatively small for the films grown on single crystalline substrates while it is substantial for the film grown on amorphous substrate. SPIS investigations revealed that ZnO films deposited on single crystalline substrates exhibit significantly higher density of defects than the film deposited on amorphous substrate. This is most probably due to a higher density of misfit dislocations, which compensate for the lattice mismatch between the film and the substrate. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1