Počet záznamů: 1
Light trapping abilities of silicon thin films measured by Raman spectroscopy
- 1.LEDINSKÝ, M., HAKL, M., ONDIČ, L., GANZEROVÁ, K., VETUSHKA, A., FEJFAR, A., KOČKA, J. Light trapping abilities of silicon thin films measured by Raman spectroscopy. In: NOWAK, S., ed. Proceedings of the 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. München: WIP Wirtschaft und Infrastruktur GmbH & Co Planungs KG, 2012, s. 2431-2433. ISBN 3-936338-28-0. Dostupné z: doi: 10.4229/27thEUPVSEC2012-3CV.2.24
Počet záznamů: 1