Počet záznamů: 1
Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser
- 1.
SYSNO 0336007 Název Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser Překlad názvu Optická emisní spektroskopie různých materiálů ozářených rentgenovým laserem s volnými elektrony Tvůrce(i) Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Rosmej, F.B. (FR)
Renner, Oldřich (FZU-D) RID, ORCID
Saksl, K. (SK)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Galtier, E. (FR)
Schott, R. (FR)
Khorsand, A.R. (NL)
Riley, D. (GB)
Dzelzainis, T. (GB)
Nelson, A. (US)
Lee, R. W. (US)
Heimann, P. (US)
Nagler, B. (GB)
Vinko, S. (GB)
Wark, J. (GB)
Whitcher, T. (GB)
Toleikis, S. (DE)
Tschentscher, T. (DE)
Fäustlin, R. (DE)
Wabnitz, H. (DE)
Bajt, S. (DE)
Chapman, H. (DE)
Krzywinski, J. (US)
Sobierajski, R. (PL)
Klinger, D. (PL)
Jurek, M. (PL)
Pelka, J. (PL)
Hau-Riege, S. (US)
London, R.A. (US)
Kuba, J. (CZ)
Stojanovic, N. (DE)
Sokolowski-Tinten, K. (DE)
Gleeson, A.J. (GB)
Störmer, M. (DE)
Andreasson, J. (SE)
Hajdu, J. (SE)
Timneanu, N. (SE)Zdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. 73610P/1-73610P/10. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. Konference Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II, Prague, 21.04.2009-23.04.2009 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova optical emission spectroscopy * free-electron laser * atomic lines * plasma plume * warm dense matter URL http://dx.doi.org/10.1117/12.822766 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0180339
Počet záznamů: 1