Počet záznamů: 1
Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů
- 1.
SYSNO ASEP 0205621 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů Překlad názvu Use of optically trapped probes for measurement of inaccessible transparent surface profiles Tvůrce(i) Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAI
Jákl, Petr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Ježek, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Liška, M. (CZ)
Zemánek, Pavel (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Jemná mechanika a optika. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. - ISSN 0447-6441
Roč. 48, č. 6 (2003), s. 170 - 173Poč.str. 4 s. Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova optical tweezers ; microparticles ; nanoparticles Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GA101/00/0974 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA1065203 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace Optická pinzeta se během několika posledních let stala neocenitelným pomocníkem při studiu silových interakcí mezi mikročásticemi, nanočásticemi, živými buňkami, subbuněčnými strukturami a jednotlivými makromolekulami [1,2]. Její princip využívá skutečnosti, že dielektrická částice s indexem lomu vyšším než je okolní médium, je tažena do místa s největší intenzitou laserového svazku. Tyto síly se pohybují v řádech jednotek až stovek pN a umožňují prostorové zachycení dielektrických objektů o velikostech od několika desítek nanometrů po desítky mikrometrů. Doplní-li se sestava citlivým systémem pro detekci výchylky zachyceného objektu a vhodnou kalibrační metodou, lze ji využít jako citlivý profilometr pro měření povrchů, ke kterým není přímý mechanický přístup a které jsou např. v imerzním prostředí. Překlad anotace In recent years, optical tweezers have become an invaluable tool at study of power interactions between micro-particles, nano-particles, live cells, sub-cellular structures and individual macromolecules [1,2]. Their princi ple exploits the fact, that a dielectric particle with the refraction index higher than the surrounding medium, is pulled to the place with the biggest intensity of the laser beam. These powers span in orders from units to hundreds of pN and enable spatial trapping of dielectric objects of sizes from several tens of nanometers to tens of micrometers. If the configuration is supplemented with a sensitive system for detection of deviation of the trapped object and a suitable callibration method, it is possible to use it as a sensitive profilometer for measurement of surfaces, which are not directly mechanically accessible and which are e.g. in an immersion environment. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1