Počet záznamů: 1  

Method and Apparatus for Determining Process-Induced Stresses and Modulus of Coatings by in-situ Measurement

  1. 1.
    SYSNO0179050
    NázevMethod and Apparatus for Determining Process-Induced Stresses and Modulus of Coatings by in-situ Measurement
    Tvůrce(i) Sampath, S. (US)
    Matějíček, Jiří (UFP-V) RID, ORCID
    Vyd. údajeStony Brook, NY, US: The Research Foundation of State University of New York, 2002
    Datum udělení patentu20021112
    Číslo patentového spisu6478875
    Druh dok.Patentový dokument
    CEZAV0Z2043910 - UFP-V
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.US
    Klíč.slova determining process
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0075863
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.