Počet záznamů: 1
Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy
SYS 0520350 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103223500.7 014 $a 85067692813 $2 SCOPUS 014 $a 000479082900003 $2 WOS 017 70
$a 10.1016/j.apsusc.2019.06.083 $2 DOI 100 $a 20200117d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy 215 $a 8 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256173 $1 011 $a 0169-4332 $e 1873-5584 $1 200 1 $a Applied Surface Science $v Roč. 491, Oct (2019), s. 16-23 $1 210 $c Elsevier 608 $a Article 610 $a single-layer graphene 610 $a Raman spectroscopy 610 $a X-ray-induced Auger electron spectroscopy (XAES) 610 $a angular-resolved core-level photoelectron spectroscopy (ARXPS) 610 $a maximum entropy method 610 $a concentration depth profile reconstruction 700 -1
$3 cav_un_auth*0100630 $a Zemek $b Josef $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $z K $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0237279 $a Houdková $b Jana $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100265 $a Jiříček $b Petr $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258087 $a Ižák $b Tibor $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $y SK $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0102823 $a Kalbáč $b Martin $p UFCH-W $i Odd. nízkodimenzionálních systémů $j Dept. of Low-dimensional Systems $w Low-dimensional Systems $T Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. 856 $9 RIV $u https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.06.083
Počet záznamů: 1