Počet záznamů: 1  

Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser

  1. 1.
    SYSNO ASEP0492824
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevMechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser
    Tvůrce(i) Milov, I. (NL)
    Makhotkin, I.A. (NL)
    Sobierajski, R. (PL)
    Medvedev, Nikita (FZU-D) ORCID, RID
    Lipp, V. (DE)
    Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
    Sturm, J.M. (NL)
    Tiedtke, K. (DE)
    de Vries, G. (NL)
    Störmer, M. (DE)
    Siewert, F. (DE)
    van de Kruijs, R. (NL)
    Louis, E. (NL)
    Jacyna, I. (PL)
    Jurek, M. (DE)
    Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
    Vozda, Vojtěch (FZU-D) ORCID
    Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
    Saksl, K. (SK)
    Faatz, B. (DE)
    Keitel, B. (DE)
    Ploenjes, E. (DE)
    Schreiber, S. (DE)
    Toleikis, S. (DE)
    Loch, R. (DE)
    Hermann, M. (DE)
    Strobel, S. (DE)
    Nienhuys, H.-K. (NL)
    Gwalt, G. (DE)
    Mey, T. (DE)
    Enkisch, H. (DE)
    Bijkerk, F. (NL)
    Celkový počet autorů33
    Zdroj.dok.Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
    Roč. 26, č. 15 (2018), s. 19665-19685
    Poč.str.21 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovafree-electron lasers ; XUV mirrors ; Ruthenium material ; single-shot damage of thin films
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    CEPGA17-05167s GA ČR - Grantová agentura ČR
    LG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000439472400076
    EID SCOPUS85051818917
    DOI10.1364/OE.26.019665
    AnotaceRuthenium is a perspective material to be used for XUV mirrors at free-electron laser facilities. Yet, it is still poorly studied in the context of ultrafast laser-matter interaction. In this work, we present single-shot damage studies of thin Ru films irradiated by femtosecond XUV free-electron laser pulses at FLASH. Ex-situ analysis of the damaged spots, performed by different types of microscopy, shows that the weakest detected damage is surface roughening. For higher fluences we observe ablation of Ru. Combined simulations using Monte-Carlo code XCASCADE(3D) and the two-temperature model reveal that the damage mechanism is photomechanical spallation, similar to the case of irradiating the target with optical lasers. The analogy with the optical damage studies enables us to explain the observed damage morphologies.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2019
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.