Počet záznamů: 1
Complex nano-patterning of structural, optical, electrical and electron emission properties of amorphous silicon thin films by scanning probe
SYS 0487144 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103215653.0 014 $a 85030834366 $2 SCOPUS 014 $a 000415227000145 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.apsusc.2017.09.228 $2 DOI 100 $a 20180223d m y slo 03 ba 101 $a eng 102 $a NL 200 1-
$a Complex nano-patterning of structural, optical, electrical and electron emission properties of amorphous silicon thin films by scanning probe 215 $a 7 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256173 $1 011 $a 0169-4332 $e 1873-5584 $1 200 1 $a Applied Surface Science $v Roč. 428, Jan (2018), s. 1159-1165 $1 210 $c Elsevier 610 $a amorphous silicon 610 $a nano-templates 610 $a nanostructures 610 $a electrical conductivity 610 $a electron emission 610 $a atomic force microscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0358584 $a Fait $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $z K $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100173 $a Čermák $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $a Rezek $b Bohuslav $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1