Počet záznamů: 1
Comparison of LVEM5, LVEM25 and standard TEM
- 1.
SYSNO 0477368 Název Comparison of LVEM5, LVEM25 and standard TEM Tvůrce(i) Coufalová, E. (CZ)
Pavlova, Ewa (UMCH-V) [MATER] RID
Šlouf, Miroslav (UMCH-V) [MATER] RID, ORCID
Štěpán, P. (CZ)
Drštička, M. (CZ)
Kolařík, V. (CZ)
Hozák, Pavel (UMG-J) [25] RID, ORCIDZdroj.dok. Proceedings. S. 507-508. - Lausanne : Swiss Society for Optics and Microscopy, 2017 Konference Microscopy Conference, 21.08.2017 - 25.08.2017, Lausanne Druh dok. Abstrakt Grant TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UMCH-V - RVO:61389013 ; UMG-J - RVO:68378050 Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova electron microscopy * nanostructure of materials Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0274188
Počet záznamů: 1