Počet záznamů: 1  

Comparison of LVEM5, LVEM25 and standard TEM

    1.
    SYSNO ASEP0477368
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Zařazení RIVNení vybrán druh dokumentu
    NázevComparison of LVEM5, LVEM25 and standard TEM
    Tvůrce(i) Coufalová, E. (CZ)
    Pavlova, Ewa (UMCH-V) RID
    Šlouf, Miroslav (UMCH-V) RID, ORCID
    Štěpán, P. (CZ)
    Drštička, M. (CZ)
    Kolařík, V. (CZ)
    Hozák, Pavel (UMG-J) RID, ORCID
    Zdroj.dok.Proceedings. - Lausanne : Swiss Society for Optics and Microscopy, 2017
    S. 507-508
    Poč.str.2 s.
    AkceMicroscopy Conference
    Datum konání21.08.2017 - 25.08.2017
    Místo konáníLausanne
    ZeměCH - Švýcarsko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovaelectron microscopy ; nanostructure of materials
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPTE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    Institucionální podporaUMCH-V - RVO:61389013 ; UMG-J - RVO:68378050
    PracovištěÚstav makromolekulární chemie
    KontaktEva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše