Počet záznamů: 1  

Characterization of sp2-sp3 hybridized carbon composites by Raman and FTIR measurements

  1. 1.
    SYSNO ASEP0451062
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevCharacterization of sp2-sp3 hybridized carbon composites by Raman and FTIR measurements
    Tvůrce(i) Varga, Marián (FZU-D) RID, ORCID
    Ižák, Tibor (FZU-D) RID
    Vretenár, V. (SK)
    Skákalová, V. (SK)
    Kozak, Halyna (FZU-D) RID, ORCID
    Artemenko, Anna (FZU-D) RID, ORCID
    Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.ICAVS 8.Abstracts Poster. - Vienna : Vienna University of Technology, 2015 / Lendl B. ; Koch C. ; Kraft M. ; Ofner J. ; Ramer G. - ISBN 978-3-200-04205-6
    Rozsah strans. 160-161
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceInternational Conference on Advanced Vibrational Spectroscopy /8./ - ICAVS8
    Datum konání12.07.2015-17.07.2015
    Místo konáníVienna
    ZeměAT - Rakousko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.AT - Rakousko
    Klíč. slovacarbon composites ; CVD ; Raman ; FTIR ; XPS
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPGC15-22102J GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    AnotaceIn this contribution we investigate different carbon composites by Raman and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy measurements. A detailed study of deposition processes, and morphological and chemical properties of the carbon composites are supported and correlated by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements. Coexistence of nanocrystalline diamond, which is itself a composite, with graphitic phases from the substrate significantly modulate the character of the Raman spectrum. For such composites, the laser intensity as well as used laser wavelength are crucial parameters which modulate the background signal. In contrast to Raman measurements from sample volume, the XPS technique detects the signal coming only from ~10 nm from the sample surface. Due to this limitation the standard XPS technique is not able to investigate the whole sample volume.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2016
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.