Počet záznamů: 1
Conductivity measurement of individual SnS nanoparticles by Peak Force AFM
SYS 0427218 LBL 02523^^^^^2200457^^^450 005 20240103204124.8 017 70
$a 10.1557/opl.2013.1108 $2 DOI 100 $a 20140326d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Conductivity measurement of individual SnS nanoparticles by Peak Force AFM 215 $a 3 s. $c E 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0427219 $1 011 $a 0272-9172 $1 200 1 $a MRS Symposia Proceedings $1 210 $a Melville $c Materials Research Society $d 2013 $1 225 $a MRS Proceedings $v 1557 $1 702 1 $a Brongersma $b M.L. $4 340 $1 702 1 $a Matias $b V. $4 340 $1 702 1 $a Segalman $b R. $4 340 $1 702 1 $a Shea $b L.D. $4 340 $1 702 1 $a Watanabe $b H. $4 340 610 0-
$a nanoparticles 610 0-
$a SnS 610 0-
$a AFM 610 0-
$a Peak Force 610 0-
$a conductivity 700 -1
$3 cav_un_auth*0289142 $a Prastani $b C. $y NL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0294089 $a Hývl $b Matěj $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0289143 $a Nanu $b M. $y NL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0289144 $a Nanu $b D. $y NL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0216308 $a Schropp $b R.E.I. $y NL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0302449 $a Rath $b K. $y NL $4 070 856 $u http://dx.doi.org/10.1557/opl.2013.1108
Počet záznamů: 1