Počet záznamů: 1
X-ray laser-induced ablation of lead compounds
- 1.
SYSNO ASEP 0372531 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název X-ray laser-induced ablation of lead compounds Tvůrce(i) Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Boháček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Gaudin, J. (DE)
Heimann, P.A. (US)
Hau-Riege, S.P. (US)
Jurek, M. (PL)
Klinger, D. (PL)
Pelka, J. (PL)
Sobierajski, R. (PL)
Krzywinski, J. (US)
Messerschmidt, M. (US)
Moeller, S.P. (US)
Nagler, B. (US)
Rowen, M. (US)
Schlotter, W.F. (US)
Swiggers, M.L. (US)
Turner, J.J. (US)
Vinko, S.M. (GB)
Whitcher, T. (GB)
Wark, J. (GB)
Matuchová, M. (CZ)
Bajt, S. (DE)
Chapman, H. (DE)
Fäustlin, R. (DE)
Singer, A. (DE)
Tiedtke, K. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Vartaniants, I. (DE)
Wabnitz, H. (DE)
Dzelzainis, T. (GB)
Riley, D. (GB)
Andreasson, J. (SE)
Hajdu, J. (SE)
Iwan, B. (SE)
Timneanu, N. (SE)
Saksl, K. (SK)Zdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. - Bellingham : SPIE, 2011 / Juha L. ; Bajt S. ; London R.A. - ISSN 0277-786X - ISBN 9780819486677 Rozsah stran 807718/1-807718/7 Poč.str. 7 s. Akce Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III Datum konání 18.04.2011-20.04.2011 Místo konání Prague Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova extreme ultraviolet laser ; x-ray laser ; free electron laser ; radiation damage ; laser ablation ; damage thresholds ; single-shot damage Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP ME10046 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GAP205/11/0571 GA ČR - Grantová agentura ČR LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd GAP108/11/1312 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000293212000029 Anotace The recent commissioning of a X-ray free-electron laser triggered an extensive research in the area of X-ray ablation of high-Z, high-density materials. Such compounds should be used to shorten an effective attenuation length for obtaining clean ablation imprints required for the focused beam analysis. Compounds of lead (Z=82) represent the materials of first choice. In this contribution, single-shot ablation thresholds are reported for PbWO(4) and PbI(2) exposed to ultra-short pulses of extreme ultraviolet radiation and X-rays at FLASH and LCLS facilities, respectively. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1