Počet záznamů: 1
Optical and scanning electron microscopies in examination of ultrathin foils
- 1.
SYSNO ASEP 0353051 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Optical and scanning electron microscopies in examination of ultrathin foils Tvůrce(i) Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. Focus on Microscopy - FOM 2010. - Shanghai : Shanghai Jiao Tong University, 2010
S. 224Poč.str. 1 s. Akce Focus on Microscopy - FOM 2010 Datum konání 28.03.2010-31.03.2010 Místo konání Shanghai Země CN - Čína Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CN - Čína Klíč. slova very low energy electrons ; laser confocal microscope ; free-standing ultra thin films ; very low energy transmission mode Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Very low energy scanning transmission electron microscopy is emerging as a novel tool for examination of ultrathin foils [1] to learn more about the electron structure of solids. The electron micrographs provide image contrasts governed by the “effective thickness” of the sample proportional to the inner potential and at lowest energies the local density of electron states in the direction of impact of the electron wave starts to dominate. The optical methods are used during the sample preparation and thickness measurement of the layers. The laser confocal microscope Olympus Lext OLS 3100 was used for preliminary observations of the 10 nm C foil prepared by magnetron sputtering in nitrogen atmosphere on a flat glass covered by a disaccharide layer. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1