Počet záznamů: 1
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
SYS 0338185 LBL 03073^^^^^2200337^^^450 005 20240103193011.2 100 $a 20100204d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0338184 $1 010 $a N $1 200 1 $a ICANS23 - 23rd International Conference on Amorphous and Nanocrystaline Semiconductors. Book of Abstracts $v S. 332-332 $1 210 $a Utrecht $c Utrecht University $d 2009 541 1-
$a Fourierovské fotovodivostní měření tenkých vrstev amorfního křemíku na hrubých opticky neprůhledných a vodivých substrátech $z cze 610 0-
$a thin film silicon 610 0-
$a photoconductivity 610 0-
$a optical modeling 700 -1
$3 cav_un_auth*0225122 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Holovský $b Jakub $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0246815 $4 070 $a Ižák $b T. $y SK 701 -1
$3 cav_un_auth*0100468 $i Optické materiály $j Optical Materials $4 070 $a Poruba $b Aleš $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100605 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Vaněček $b Milan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0259498 $4 070 $a Hamers $b E.A.G. $y NL
Počet záznamů: 1