Počet záznamů: 1
Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0205650 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope Tvůrce(i) Autrata, Rudolf (UPT-D)
Jirák, Josef (UPT-D) RID
Wandrol, Petr (UPT-D)
Špinka, Jiří (UPT-D)Zdroj.dok. Proceedings of the 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension / Milat O. ; Ježek D.. - Zagreb : Croatian Society for Electron Microscopy, 2003 Rozsah stran s. 489 - 490 Poč.str. 2 s. Akce MCEM Datum konání 01.06.2003-05.06.2003 Místo konání Pula Země HR - Chorvatsko Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. HR - Chorvatsko Klíč. slova collection angle ; signal level ; detector Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA102/01/1271 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace Impact of primary electrons causes generation of signals in the environmental scanning electron microscope (ESEM). These signals can be subsequently detected. Secondary and backscattered electrons are very often used to obtain information about the specimen. In ESEM secondary electrons are mostly detected by a ionisation detector, while backscattered electrons are detected by a scintillation detector. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1