Počet záznamů: 1
Nanometric deformations of thin Nb layers under a strong electric field using soft x-ray laser interferometry
- 1.
SYSNO 0025706 Název Nanometric deformations of thin Nb layers under a strong electric field using soft x-ray laser interferometry Překlad názvu Měření nanometrických deformací tenkých Nb vrstev za přítomnosti silného elektrického pole s pomocí rentgenové interferometrie Tvůrce(i) Jamelot, G. (FR)
Ros, D. (FR)
Carillon, A. (FR)
Rus, Bedřich (FZU-D) ORCID
Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Präg R., Ansgar (FZU-D)
Joyeux, D. (FR)
Phalippou, D. (FR)
Boussoukaya, M. (FR)
Kalmykow, M. (FR)
Ballester, F. (FR)
Jacques, E. (FR)Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Roč. 98, - (2005), 044308/1-044308/8. - : AIP Publishing Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LN00A100 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika IAA1010014 GA AV ČR - Akademie věd HPRI-00108, XE - země EU CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova x-ray laser * x-ray interferometry Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0116070
Počet záznamů: 1