Počet záznamů: 1
Deformation mechanisms of Al thin films: In-situ TEM and molecular dynamics study
- 1.
SYSNO 0557624 Název Deformation mechanisms of Al thin films: In-situ TEM and molecular dynamics study Tvůrce(i) Bajtošová, L. (CZ)
Křivská, B. (CZ)
Králík, R. (CZ)
Veselý, J. (CZ)
Hanuš, J. (CZ)
Harcuba, P. (CZ)
Fikar, Jan (UFM-A) RID, ORCID
Yadav, Ankit (UFM-A)
Cieslar, M. (CZ)Zdroj.dok. Scripta Materialia. Roč. 215, JUL (2022). - : Elsevier Číslo článku 114688 Druh dok. Článek v odborném periodiku Institucionální podpora UFM-A - RVO:68081723 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova simulations * plasticity * migration * crystals * strength * behavior * stress * ni * cu * Nanocrystalline materials * Thin films * In-situ transmission electron microscopy * Molecular dynamics Spolupracující instituce Karlova Univerzita Praha (Česká republika) URL https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1359646222001889?via%3Dihub Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0331608
Počet záznamů: 1