Počet záznamů: 1
Characterisation of materials by scanning low energy electron microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0481029 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Characterisation of materials by scanning low energy electron microscope Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 6 Zdroj.dok. 3rd Forum of Center for Advanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORAM3). 13th Light Metals International Workshop By Japan Institute of Light Metals. - Toyama : University of Toyama, 2017
S. 14-15Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Forum of Center for Advanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORAM3) /3./. Light Metals International Workshop By Japan Institute of Light Metals /13./ Datum konání 12.10.2017 - 13.10.2017 Místo konání Toyama Země JP - Japonsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. JP - Japonsko Klíč. slova LEEM ; ultra-fine grains ; ultrahigh strength ; super plasticity Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Nano-materials (production and properties) CEP TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Nowadays materials with ultra-fine grains are developed. They are very attractive for many industrial applications because of their interesting machanical and physical properties including ultrahigh strength and super plasticity. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1