Počet záznamů: 1
Characterisation of materials by scanning low energy electron microscope
SYS 0481029 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103214910.4 017 $2 DOI 100 $a 20171108d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a JP 200 1-
$a Characterisation of materials by scanning low energy electron microscope 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0481028 $1 200 1 $a 3rd Forum of Center for Advanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORAM3). 13th Light Metals International Workshop By Japan Institute of Light Metals $v S. 14-15 $1 210 $a Toyama $c University of Toyama $d 2017 610 $a LEEM 610 $a ultra-fine grains 610 $a ultrahigh strength 610 $a super plasticity 700 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258032 $a Mikmeková $b Eliška $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0052206 $a Pokorná $b Zuzana $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1