Characterisation of InAs/GaAs quantum dots by high resolution transmission electron microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0432780
Název	Characterisation of InAs/GaAs quantum dots by high resolution transmission electron microscopy
Tvůrce(i)	Zíková, Markéta (FZU-D)_RID Hospodková, Alice (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Pangrác, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Hulicius, Eduard (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Komninou, Ph. (GR) Kioseoglou, J. (GR)
Zdroj.dok.	Sborník příspěvků 4. studentské vědecké konference fyziky pevných látek. S. 84-89. - Praha : Česká technika-nakladatelství ČVUT, 2014 / Aubrecht J. ; Dragounová K. ; Fojtíková J. ; Kalvoda L. ; Kučeráková M.
Konference	Student Scientific Conference on Solid State Physics /4./, Nové Hrady, 23.06.2014-27.06.2014
Druh dok.	Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Grant	GA13-15286S GA ČR - Grantová agentura ČR
	7AMB12GR034 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	quantum dot * InAs * GaAsSb * high resolution transmission electron microscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0237147

Počet záznamů: 1