Počet záznamů: 1
Characterisation of InAs/GaAs quantum dots by high resolution transmission electron microscopy
- 1.Zíková, Markéta - Hospodková, Alice - Pangrác, Jiří - Hulicius, Eduard - Komninou, Ph. - Kioseoglou, J.
Characterisation of InAs/GaAs quantum dots by high resolution transmission electron microscopy.
Sborník příspěvků 4. studentské vědecké konference fyziky pevných látek. Praha: Česká technika-nakladatelství ČVUT, 2014 - (Aubrecht, J.; Dragounová, K.; Fojtíková, J.; Kalvoda, L.; Kučeráková, M.), s. 84-89. ISBN 978-80-01-05565-6.
[Student Scientific Conference on Solid State Physics /4./. Nové Hrady (CZ), 23.06.2014-27.06.2014]
http://hdl.handle.net/11104/0237147
Počet záznamů: 1