Characterisation of InAs/GaAs quantum dots by high resolution transmission electron microscopy

Zíková, M., Hospodková, A., Pangrác, J., Hulicius, E., Komninou, P., Kioseoglou, J. Characterisation of InAs/GaAs quantum dots by high resolution transmission electron microscopy. In: AUBRECHT, J., DRAGOUNOVÁ, K., FOJTÍKOVÁ, J., KALVODA, L., KUČERÁKOVÁ, M., eds. Sborník příspěvků 4. studentské vědecké konference fyziky pevných látek. Praha: Česká technika-nakladatelství ČVUT, 2014, s. 84-89. ISBN 978-80-01-05565-6.