Počet záznamů: 1  

Uncertainties of displacement measurement of nanometrology coordinate measurement machines caused by laser source fluctuations

  1. 1.
    SYSNO0386112
    NázevUncertainties of displacement measurement of nanometrology coordinate measurement machines caused by laser source fluctuations
    Tvůrce(i) Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. Optical Micro- and Nanometrology IV, (Proceedings of SPIE ), Vol. 8430. 84301D:1-9. - Bellingham : SPIE, 2012
    Konference Conference on Optical Micro- and Nanometrology IV, Brussels, 16.04.2012-18.04.2012
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
    KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
    GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
    TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.US
    Klíč.slova nanometrology * interferometry * laser noise
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0215729
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.