Počet záznamů: 1
Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0373735 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy Tvůrce(i) Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. XXII International Conference on Raman Spectroscopy. - Melville : AIP, 2010 / Champion P.M. ; Ziegler L.D. - ISBN 978-0-7354-0818-0 Rozsah stran s. 1109-1110 Poč.str. 2 s. Akce International Conference on Raman Spectroscopy /22./ Datum konání 08.08.2010-13.08.2010 Místo konání Boston Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova Raman ; microcrystalline silicon ; atomic force microscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000281210900584 Anotace Thin films of microcrystalline silicon (μc-Si:H) are intensively studied mainly for thin film solar cells. All structural and material properties of μc-Si:H significantly depend on the crystalline volume fraction and the crystallographic orientation of the grains. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1