Počet záznamů: 1
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films
- 1.
SYSNO ASEP 0340747 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Hanzlíková, Renáta (UPT-D)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. Materials Transactions. - : Japan Institute of Metals and Materials - ISSN 1345-9678
Roč. 51, č. 2 (2010), s. 265-270Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. JP - Japonsko Klíč. slova low energy scanning electron microscopy ; thin foils ; transmission of very slow electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) UT WOS 000276538900014 EID SCOPUS 77949670967 DOI 10.2320/matertrans.MC200915 Anotace Instrument and methodology is presented for very low energy scanning transmission electron microscopy. The detector system provides simultaneous acquisitions of total reflected and transmitted electron fluxes. Introductory experiments incorporated examination of ultrathin foils of gold, carbon and graphene flakes. Extremely sensitive thickness contrast obtained at units of eV is demonstrated. The phenomenon of electron transmissivity apparently exceeding 100% owing to the contribution of secondary electrons released near to the exit surface is described and discussed. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1