Počet záznamů: 1
Investigating the thin film growth of [Ni(Hvanox).sub.2./sub.] by microscopic and spectroscopic techniques
- 1.
SYSNO 0618377 Název Investigating the thin film growth of [Ni(Hvanox)2] by microscopic and spectroscopic techniques Tvůrce(i) Sapre, Atharva Umesh (FZU-D) ORCID
Vlček, Jan (FZU-D) RID, ORCID
de Prado, Esther (FZU-D) ORCID, RID
Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
Klementová, Mariana (FZU-D) RID, ORCID
Vondráček, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Svora, Petr (FZU-D) ORCID
Cuza, E. (IE)
Morgan, G.G. (IE)
Honolka, Jan (FZU-D) RID, ORCID
Kühne, Irina A. (FZU-D) ORCIDKorespondující/senior Kühne, Irina A. - Korespondující autor Zdroj.dok. Nanoscale Advances. Roč. 7, Feb (2025). - : Royal Society of Chemistry Číslo článku 2083 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA23-05878S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika EH22_008/0004596 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika LM2023051 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova thin film * AFM * SEM * TEM * XRD * 3D electron diffraction Dataset Dataset thin film growth of [Ni(Hvanox)2] NanoscaleAdv Spolupracující instituce Czech Tech Univ, Univ Ctr Energy Efficient Bldg, Trinecka 1024, Bustehrad 27343, Czech Republic
Univ Coll Dublin, Sch Chem, Dublin, IrelandDataset Dataset thin film growth of [Ni(Hvanox)2] NanoscaleAdv URL https://hdl.handle.net/11104/0365240 Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0365240 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0618377.pdf 1 1.7 MB CC Licence Vydavatelský postprint povolen
Počet záznamů: 1