Počet záznamů: 1
Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti
- 1.
SYSNO ASEP 0580392 Druh ASEP P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor Zařazení RIV F - Výsledky s právní ochranou (užitný vzor, průmyslový vzor) Poddruh RIV Užitný vzor Název Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti Překlad názvu Electric circuit assembly of the symmetric and asymmetric excitation of an ion trap Tvůrce(i) Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Jedlička, Petr (UPT-D) RID, SAI
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Pham, Minh Tuan (UPT-D) RID, ORCID, SAIRok vydání 2023 Forma vydání Tištěná - P Vlastník vzoru Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru 31.05.2023 Číslo vzoru 37086 Lic. popl. Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek Využití A - Pouze udělený (dosud nevyužívaný) patent nebo patent využívaný jeho vlastníkem Využití jiným subjektem P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence Kód vydavatele patentu CZ001 - Úřad průmyslového vlastnictví Prague Jazyk dok. cze - čeština Klíč. slova Micromotion ; symmetric excitation ; asymmetric excitation ; ion trap ; radiofrequency drive Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery Obor OECD Optics (including laser optics and quantum optics) Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Mikropohyb zachycených iontů vnáší do kvantového systému významné perturbace. Hlavní účinky jsou Dopplerův posuv a Starkův posuv druhého řádu. Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti zahrnuje technické řešení sestavy elektrického buzení iontové pasti, pomocí které je možné provádět experimenty za účelem maximální možné eliminace mikropohybů iontů nebo atomů Coulombova krystalu v iontové pasti, zvláště pohybů v její ose z, tedy v podélné ose. Překlad anotace The micromotion of trapped ions introduces significant perturbations into the quantum system. The main effects are Doppler shift and the second-order Stark shift. The assembly of the electrical circuit of the symmetric and asymmetric excitation of the ion trap includes the technical solution of the assembly of the electrical excitation of the ion trap, with the help of which it is possible to carry out experiments in order to eliminate as much as possible micro-movements of ions or atoms of the Coulomb crystal in the ion trap, especially movements in its z-axis, i.e. in the longitudinal axis. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2024 Elektronická adresa https://isdv.upv.gov.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0037/uv037086.pdf
Počet záznamů: 1