Počet záznamů: 1  

LIDT testing as a tool for optimization of processing window for D263 glass sheet TGV treatment

  1. 1.
    SYSNO ASEP0569382
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevLIDT testing as a tool for optimization of processing window for D263 glass sheet TGV treatment
    Tvůrce(i) Vanda, Jan (FZU-D) RID, ORCID
    Mydlář, Martin (FZU-D)
    Pilná, Kateřina (FZU-D)
    Turčičová, Hana (FZU-D) RID, ORCID
    Pobořil, Radek (FZU-D) ORCID
    Brajer, Jan (FZU-D) ORCID
    Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Stoklasa, B. (CZ)
    Venos, Š. (CZ)
    Celkový počet autorů9
    Číslo článku1230003
    Zdroj.dok.Laser-Induced Damage in Optical Materials 2022. - Bellingham : SPIE, 2022 / Carr C.W. ; Ristau D. ; Menoni C.S. - ISSN 0277-786X - ISBN 978-1-5106-5662-8
    Poč.str.11 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceSPIE Laser Damage 2022
    Datum konání18.09.2022 - 22.09.2022
    Místo konáníNew York
    ZeměUS - Spojené státy americké
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaTGV ; LIDT ; DPSSL ; laser ; ultra-short pulses
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    CEPLO1602 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    TM01000021 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    LM2015086 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EF15_006/0000674 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000921048200002
    EID SCOPUS85148321312
    DOI10.1117/12.2642866
    AnotaceLaser-Induced Deep Etching (LIDE) is considered as the one of the most promising techniques for production of so-called TGVs (Through Glass Vias). In the production process, thin glass sheet is treated with ultra-short lasers pulses to induce surface and volume modification, allowing efficient wet etching and formation of through hole. Precise knowledge of damage threshold of such glass is essential when optimizing the whole process and scaling up the production via laser beam parallelization. In following paper, we present recent results on LIDT measurement of D263 glass sheets at wavelengths 1030 nm and 515 nm, effective utilization of such knowledge for setting up multi-Bessel beam processing optics, and we demonstrate resulting substrates with TGVs.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12300/2642866/LIDT-testing-as-a-tool-for-optimization-of-processing-window/10.1117/12.2642866.short?SSO=1
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.