Počet záznamů: 1  

Revealing nanoscale strain mechanisms in ion-irradiated multilayers

  1. 1.
    SYSNO ASEP0556569
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevRevealing nanoscale strain mechanisms in ion-irradiated multilayers
    Tvůrce(i) Daghbouj, N. (CZ)
    Sen, H.S. (CZ)
    Callisti, M. (GB)
    Vronka, Marek (FZU-D) ORCID, RID
    Karlík, M. (CZ)
    Duchoň, Jan (FZU-D) ORCID, RID
    Čech, J. (CZ)
    Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCID
    Polcar, T. (CZ)
    Celkový počet autorů9
    Číslo článku117807
    Zdroj.dok.Acta Materialia. - : Elsevier - ISSN 1359-6454
    Roč. 229, May (2022)
    Poč.str.11 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovaion-irradiated multilayers ; strain mapping ; TEM
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Vědní obor RIV – spolupráceÚstav jaderné fyziky - Keramika, žáruvzdorné materiály a skla
    CEPLM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Výzkumná infrastrukturaCzechNanoLab - 90110 - Vysoké učení technické v Brně
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271 ; UJF-V - RVO:61389005
    UT WOS000795076100001
    EID SCOPUS85125619641
    DOI10.1016/j.actamat.2022.117807
    AnotaceUnderstanding strain evolution induced by ion bombardment in nuclear materials with high interface density is crucial for next-generation reactors. X-ray and selected-area diffraction patterns (SADPs) measurements reveal, after Cu implantation, that a relatively high out-of-plane strain is created in thin Zr/Nb 6 multilayers, while thick Zr/Nb 96 is barely distorted. The absence of layer deformation in Zr/Nb 96 is explained by local TEM strain mapping.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1016/j.actamat.2022.117807
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.