Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0549399
Název	Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope
Tvůrce(i)	Stopka, Jan (UPT-D)_{ORCID, SAI} Zuidema, W. (NL) Kruit, P. (NL)
Korespondující/senior	Stopka, Jan - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Ultramicroscopy. Roč. 223, April (2021). - : Elsevier
Číslo článku	113223
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	Trajectory displacement * Multi-beam electron microscope * Coulomb interactions * Slice method * Electron optics
Spolupracující instituce	Delft University of Technology (Nizozemsko)
URL	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439912100019X
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0325417

Počet záznamů: 1