Počet záznamů: 1
In-situ TEM deformation of free-standing thin films and molecular dynamics simulations
SYS 0548723 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20230316104633.6 014 $a 85118822865 $2 SCOPUS 014 $a 000859097600046 $2 WOS 017 $a 10.1063/5.0067513 $2 DOI 100 $a 20211125d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a US 200 1-
$a In-situ TEM deformation of free-standing thin films and molecular dynamics simulations 215 $a 6 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0562346 $1 010 $a 978-0-7354-4138-5 $1 011 $a 0094-243X $1 200 1 $a AIP Conference Proceedings $i APPLIED PHYSICS OF CONDENSED MATTER (APCOM 2021) $h 2411 $1 210 $a Melville $c Amerikan Institute of Physics $d 2021 $1 702 1 $a Sitek $b J. $4 340 $1 702 1 $a Vajda $b J. $4 340 $1 702 1 $a Jamnický $b I. $4 340 610 $a thin films, nanocrystals, molecular dynamics 610 $a nanocrystals 610 $a molecular dynamics 700 -1
$3 cav_un_auth*0386911 $a Bajtošová $b L. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0417763 $a Králík $b R. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0331103 $a Křivská $b B. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0014705 $a Veselý $b J. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0303872 $a Fikar $b Jan $p UFM-A $i Víceúrovňové modelování a měření fyzikálních vlastností $j Multiscale modelling and measurements of physical properties $w Electrical and Magnetic Properties Group $4 070 $T Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0203139 $a Cieslar $b M. $y CZ $4 070
Počet záznamů: 1