Počet záznamů: 1  

SMV-2021-02: Vývoj a realizace amplitudové masky pro justáž optomechanických soustav

  1. 1.
    SYSNO ASEP0545141
    Druh ASEPV - Výzkumná zpráva
    Zařazení RIVV – výzkumná zpráva
    NázevSMV-2021-02: Vývoj a realizace amplitudové masky pro justáž optomechanických soustav
    Překlad názvuSMV-2021-02: Development and implementation of amplitude masks for adjustment of optomechanical systems
    Tvůrce(i) Meluzín, Petr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Chlumská, Jana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Kolařík, Vladimír (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Kopal, Jaroslav (UPT-D)
    Vyd. údajeBrno: Meopta - optika, s.r.o., 2021
    Poč.str.6 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.cze - čeština
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovae-beam lithography ; lithography mask
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    Další zdrojneveřejné zdroje
    AnotaceByla vyvinuta, realizována a charakterizována amplitudová maska dle podkladů zadavatele. K přípravě byl použit zápis motivu v zařízení s elektronovým svazkem a související technologické operace. Parametry byly ověřeny pomocí skenování povrchu sondou.
    Překlad anotaceAn amplitude mask was developed, implemented and characterized according to the partner's documents. The notation of the motif in an electron beam device and related technological operations were used for the preparation. The parameters were verified by scanning the surface with a probe.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2022
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.