Počet záznamů: 1
Nanoscale study of the hole-selective passivating contacts with high thermal budget using C-AFM tomography
SYS 0543404 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103225936.4 014 $a 85102450293 $2 SCOPUS 014 $a 000626502700054 $2 WOS 017 70
$a 10.1021/acsami.0c21282 $2 DOI 100 $a 20210624d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Nanoscale study of the hole-selective passivating contacts with high thermal budget using C-AFM tomography 215 $a 7 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0329852 $1 011 $a 1944-8244 $e 1944-8252 $1 200 1 $a ACS Applied Materials and Interfaces $v Roč. 13, č. 8 (2021), s. 9994-10000 $1 210 $c American Chemical Society 608 $a Article 610 $a silicon solar cell 610 $a passivating contact 610 $a scalpel C-AFM 610 $a C-AFM tomography 610 $a charge-carrier transport 700 -1
$3 cav_un_auth*0294089 $a Hývl $b Matěj $p FZU-D $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $z K $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0342844 $a Nogay $b G. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0382767 $a Lőper $b P. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0307393 $a Haug $b F.J. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0342846 $a Jeangros $b Q. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0280016 $a Ballif $b C. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $p FZU-D $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 856 $u https://doi.org/10.1021/acsami.0c21282 $9 RIV
Počet záznamů: 1